反射透射光譜測量支架
- 產品型號：STAGE-RTL-T
- 更新時間：2023-12-15
- 產品介紹：反射透射光譜測量支架是做反射測量時候的探頭支架，可以放置小于150mm的光學鍍層和基底樣品。支架可以安裝6.35直徑的反射探頭，并且可以在高度上調整大約63.5mm。平臺上刻有不同直徑的圓，可以更方便的對準樣品。
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產品介紹
反射透射光譜測量支架
反射平臺是做反射測量時候的探頭支架，可以放置小于150mm的光學鍍層和基底樣品。支架可以安裝6.35直徑的反射探頭，并且可以在高度上調整大約63.5mm。平臺上刻有不同直徑的圓，可以更方便的對準樣品。
Stage-RTL-T型平臺是一種新型取樣系統，用來分析如硅、金屬、玻璃和塑料一類的材料。RTL-T與我們的光譜儀和光源多種組合方式，配合進行反射和傳輸測量
Stage-RTL-T包括一個附著在基座上的可調軌夾。有三個用螺絲固定在軌夾上的設備，包括一個帶 UV-VIS校準鏡頭的光纖固定器；一個反射和傳送的樣品盒；一個光阱用來減少背射光和 環境光的影響。
反射透射光譜測量支架
| STAGE | STAGE-RTL-T | |
| 尺寸: | 152.4 mm 直徑(base) | 206.3 mm 直徑(base) |
| 尺寸: | 101.6 mm 直徑(樣品區域) | 152.4 mm 直徑 (采樣支架)(樣品區域) |
| 重量: | 620 g | 4.5 kg |
| 高度: | 導軌高度可調 63.5 mm | 導軌高度可調 400 mm |
| 材質: | 陽極氧化鋁底盤, 不銹鋼支桿 | 陽極氧化鋁 |
對于簡易的反射測量需求，我們也可以提供STAGE平臺。
為了提高調整的精度和更加靈活的應用場合，我們開發了增強型的STAGE-RM平臺，
透反射樣品支架是常用的光譜測量附件，與反射探頭共用可實現反射光譜測量，與兩根光纖跳線共用可實現透射光譜測量。透反射樣品支架包括可調滑軌、底座、樣品調整座以及兩個準直透鏡，型號為STAGE-RM的增強型透反射樣品支架還包括一維平移臺以及萬向桿架。該產品廣泛應用于硅、金屬、玻璃、塑料、珠寶等樣品的透射和反射光譜測量。
透反射樣品支架
- 實現透射和反射光譜測量
- 測量高度可調
- 測量高度可通過一維平移臺微調
- 自帶兩個準直透鏡
- 可定制配合安裝孔尺寸
如果需要其他相關配件，例如光源，光譜儀，光纖，積分球等，可以韻翔光電。
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